XRD-XRF

Responsabile scientifico: prof. Edoardo Proverbio
Attività:

  • La diffrazione di raggi X è una tecnica non distruttiva che studia e misura gli effetti di interazione tra un fascio di Raggi X e la materia cristallina (e/o policristallina). Permette di quantificare le varie componenti di un campione solido e di ricavare anche informazioni sulla struttura cristallina e sulla dimensione dei cristalliti. La diffrazione a Raggi X viene impiegata, per esempio, nel settore della ricerca chimica e farmaceutica per la determinazione della struttura di composti inorganici ed organici, per la comprensione delle funzioni e dei meccanismi molecolari. 
  • Fluorescenza a raggi X (XRF) è uno dei metodi analitici più semplici ed accurati per la determinazione della composizione elementare di molti tipi di materiali. Questa apparecchiatura ha un'eccellente sensibilità ed un'alta risoluzione per gli elementi leggeri (F-Cu), diventando così un ottimo strumento, per esempio, per applicazioni in minerologia o nel campo dei cementi e anche rispetto molti metodi ASTM. È estremamente flessibile ed in grado di misurare tutti gli elementi dall'Ossigeno all'Uranio in solidi, liquidi e polveri, in ambienti sottovuoto o elio.
  • L'ICP-MS è una tecnica molto sensibile e in grado di determinare diverse sostanze inorganiche metalliche e non metalliche presenti in concentrazioni anche di circa una parte per bilione (ppb). Sfrutta l'utilizzo di una torcia al plasma ICP per produrre la ionizzazione e di uno spettrometro di massa per la separazione e rivelazione degli ioni prodotti. Con la ICP-MS è anche possibile effettuare l'analisi isotopica.

Elenco strumenti e/o prove:

  • Diffrattometro a raggi X
  • Fluorescenza a raggi X
  • Spettrometria di massa a plasma accoppiato induttivamente

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