SEM

Responsabile scientifico: prof. Giovanni Neri
Responsabili tecnici: Marianna Fazio, Paolo Bruzzaniti

Attività:
È possibile effettuare caratterizzazioni microstrutturali su campioni nel loro stato naturale, anche "umidi" e soprattutto non conduttivi, così che possano essere osservati nel loro stato naturale in condizioni di basso vuoto e senza bisogno di ricoprimento conduttivo. Questa apparecchiatura trova larga applicazione nel campo della Scienza dei materiali (studi microstrutturali e tessiturali su sezioni lucide e fratture di ceramici, metalli, vetri, polimeri, compositi, ecc.; studi di sistemi ceramici durante i processi di fusione e cristallizzazione; grado di idratazione delle argille; effetti termici su metalli); nell'ambito di analisi chimico-mineralogiche-petrografiche di campioni geologici o archeologici; su campioni di carotaggio petrolifero; nella tutela e conservazione del patrimonio culturale e monumentale (nel restauro di affreschi e pitture; studi su malte, intonaci, cementi, calcestruzzo, e analisi di corrosione ambientale (piogge acide)); nel settore tessile per studi di superficie e poteri assorbenti delle fibre; nel campo biomedicale (analisi morfologiche, chimiche qualitative e quantitative per materiale biologico e/o inorganico; in campo farmaceutico nella misurazione dell'idrosolubilità dei farmaci); nel settore cosmetico, alimentare, etc. per indagini di tipo strutturale e analitico a livello nanometrico dei campioni.
Il microscopio elettronico a scansione combina la tecnologia di imaging 3D e le prestazioni di una colonna elettronica GEMINI® con la capacità di un fascio ionico focalizzato per la lavorazione dei materiali, ricerca e preparazione del campione su scala nanometrica. 
Elenco strumenti e/o prove:

  • Microscopio elettronico a scansione ambientale
  • Microscopio elettronico a scansione dual beam

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